芯片恒温恒湿试验箱低温60度用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、航天等制品检测质量之用。
型号:SMD-80PF | 浏览量:994 |
更新时间:2024-07-11 | 是否能订做:是 |
芯片恒温恒湿试验箱低温60度
规格与技术参数
型号 SMD-80PF
工作室尺寸(W*H*D)MM 400*400*500
外形尺寸(W*H*D)MM 650*1124*1515
功率: 4.0(KW)
温度范围: -60℃~150℃
湿度范围; 20~98%R.H
波动/均匀度: ±0.5℃/±2℃
湿度偏差: +2、-3%R.H
芯片恒温恒湿试验箱低温60度
控制系统:
1.彩色大屏触控,全中文操作,可程式编辑,方便易懂。
2.固定式条件可设定时间 0 - 999 H,触摸式 ,可任意设定固定或交变条件
3.具九点故障警示及简易维修方法
4.升,降温可作斜率控制,并具有自我校正温度基准点之功能.
5.温度传感器采用 DIN PT-100Ω
6.温度控制均采用 P.I.D. + S.S.R. 系统同步协调控制,可提高
控制组件与接口使用之稳定性及寿命.
7.具有 P.I.D. 自动演算之功能,可减少人为设定时所带来之不便.
8.在设定或运转中,如发生错误时,会提供警示讯号.
9.控制器具有记录讯号端输出,可联接温度记录器.
10.可接远程监视﹑记录系统(试验数据能在计算机上通过上位机软件直接显示和打印)
a.温度:±0.2℃(控制器设定值和控制器实测值之差)
b.湿度:±2.5%(控制器设定值和控制器实测值之差)
9.温度波动度:≤0.5℃(温度波动度为中心点实测zui高温度和zui低温度之差的一半)
10.温度误差:≤±1℃(工作室温度控制器显示值的平均温度减去中心点实测的平均温度)
11.温度均匀度:≤2.0℃(温度均匀度为每次测试中实测zui高温度和zui低温度之差的算术平均值)
12.升温速率:3℃/min可调(非线性空载)
13.降温速率:1℃/min可调(非线性空载)
14.湿度范围(仅湿热型):(20~98)%RH(参照温湿度可控制范围图,无有源湿、热负载)
15.相对湿度误差(仅湿热型):±2.0%RH
16.工作噪音:A声级≤65dB(A) (在环温25℃,回声少的隔音室内测得;采用A计权,测试8个点的平均值;各测试点水平离噪音源1米、高度离地面1米)