可编程式恒温恒湿测试仪用于电脑芯片测试

恒温恒湿试验机、恒温恒湿实验箱、可程式湿热交变试验箱、恒温机或恒温恒湿箱，用于检测材料在各种环境下性能的设备及试验各种材料耐热、耐寒、耐干、耐湿性能。适合电子、电器、手机、通讯、仪表、车辆、塑胶制品、金属、食品、化学、建材、医疗、航天等制品检测质量之用。符合标准:GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008试验A、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.3-2006试验Ca、GB/T2423.4-2008试验

可编程式恒温恒湿测试仪用于电脑芯片测试

型号：SMD-150PF

外形尺寸：500*500*400

内箱尺寸：750*1224*1615

可编程式恒温恒湿测试仪用于电脑芯片测试

技术指标

1、温度范围:-60℃~150℃

2、湿度范围:30~98%RH(温度在25℃~80℃时)

3、温度均匀度:≤2℃ (空载时)

4、湿度均匀度:+2、-3%RH

5、温度波动度:±0.5℃ (空载时)

6、湿度波动度:±2%

7、温度偏差:±2℃

8、湿度偏差:±2%

9、降温速率:0.7~1.0℃/min

10、升温速度:1.0~3.0℃/min

11、时间设定范围:1~9999H

12、湿度交变范围:40~98%RH