半导体检测高低温试验箱温湿度可选适用于航空、航天产品、信息电子仪器仪表,材料、电工、电子产品、各种电子元器件、在高温、低温或湿热环境下的各项性能指标的检验:试验数据可通过U盘拷贝,电脑雾需要安装在任何软件可直接打卡试验曲线或Excel文档。
型号:THD-408PF | 浏览量:895 |
更新时间:2023-10-24 | 是否能订做:是 |
半导体检测高低温试验箱温湿度可选
技术指标:
1、温度范围:-60℃~150℃
2、湿度范围:30(20、10)~98%RH(温度在25℃~80℃时)
3、温度均匀度:≤2℃ (空载时)
4、湿度均匀度:+2、-3%RH
5、温度波动度:±0.5℃ (空载时)
6、湿度波动度:±2%
7、温度偏差:±2℃
8、湿度偏差:±2%
9、降温速率:0.7~1.0℃/min
10、升温速度:1.0~3.0℃/min
11、时间设定范围:1~9999H
12、湿度交变范围:40~98%RH
半导体检测高低温试验箱温湿度可选
十二、使用条件:
1、安装场地
地面平整,通风良好
设备周围无强烈振动
设备周围无强电磁场影响
设备周围无易燃、易爆、腐蚀性物质和粉尘
设备周围留有适当的使用及维护空间,
2、供电条件
电源要求:AC380V±10% 50±0.5Hz 三相五线制
要求用户在安装现场为设备配置相应容量的空气或动力开关,并且此开关必须是独立供本设备使用(建议电源开关容量:32A)
3、环境条件
4、供水条件
采用纯净水、蒸馏水、去离子水。电阻率≥500Ω.m
5、其它注意事项
试验过程中打开试验箱的门,会造成箱内的温、湿度波动;在试验过程中如果多次打开门或长时间敞开门或试验样品散发湿汽,可能会造成制冷系统换热器结冰而无法正常工作。