芯片老化测试高低温交变湿热试验箱1000L

芯片老化测试高低温交变湿热试验箱1000L

技术参数：

　　1.温度范围：-20℃～150℃

       2.湿度范围：20%～98%R.H　　

      3.温度均匀度：≤±2℃ （空载时）

　　4.湿度均匀度：+2% -3%R.H

　　5.温度波动度：≤±0.5℃ （空载时）

　　6.湿度波动度：±2%

　　7.温度偏差：≤±2℃

　　8.湿度偏差：≤±2%

　　9.降温速率：0.7～1.0℃/min

　　10.升温速率：1.0～3.0℃/min

　　11.时间设定范围：0～999 小时

　　12.电源电压：380V±10%

　　13.设备总功率：3KW～15KW

控制系统：

1. 采用*品牌温湿度仪表，5.7英寸高清真彩液晶触摸显示屏。

2. 实时监控(监控控制器实时数据，信号点状态，实际输出状态)。

3. 曲线记录功能3.3.1.控制器可存储600天内历史数据(24小时运行状态下，记录间隔1min以上，温湿度数据同时记录时)，且可回放上传的控制内历史数据曲线。

4.可通过随机赠送软件将导出来的文件在电脑查看或转成EXCEL格式。

5.仪表配备RS232/485端口。

7.具有自动演算的功能，可将温湿度变化条件立即修正，使温湿度控制更

芯片老化测试高低温交变湿热试验箱1000L

恒温恒湿试验箱的满足国标：

符合标准:GB/T5170.5-2008、GB/T10586-2006、GB/T2423.1-2008试验A、GB/T2423.2-2008试验B、GB/T2423.3-2006试验Ca、GB/T2423.4-2008试验Db。

加热系统

1、采用远红外镍合金高速加温（2KW×2）电加热器
2、高温*独立系统，不影响低温试验、高温试验及交变湿热
3、温湿度控制输出功率均由微电脑演算，以达高精度及高效率之用电效益标准型恒温恒湿试验箱电路控制系统1、进口数显触摸按键，PID微电脑SSR温度控制器（日本RKC仪表）；
2、精度：0.1℃（显示范围）
3、分辨率：±0.1℃；
4、感温传感器：PT100铂金电阻测温体；
5、控制方式：热平衡调温调湿方式；所有电器均采用（施耐德）系列产品
6、温度控制采用P . I . D＋S.S.R系统同频道协调控制   
7、具有自动演算的功能，可将温度变化条件立即修正，使温湿度控制更为精确稳定
8、控制器操作界面设中英文可供选择，实时运转曲线图可由屏幕显示
9、具有RS-232或RS-485远程通讯界面，可在电脑上设计程序，查看试验过程并执行自动开关机等功能
10、控制器具有荧屏自动屏保功能，在长时间运行状态下更好的保护液晶屏（使其寿命更长久）
11、本试验箱回风口具有自动除霜装置（这样才能使试验时产生的水蒸气不会聚集在制冷蒸发器上，产生    冰堵现象）